XRD (engl. X-ray diffraction) ist ein Verfahren zur Untersuchung der Kristallstruktur (Phasenanalyse, Textur, Kristallitgröße) von Werkstoffen mittels Röntgenstrahlung. Das Prinzip beruht auf der Beugung von Röntgenstrahlen am Kristallgitter. Dabei tritt, je nach Gitterebenenabstand, Einfallswinkel und Wellenlänge der einfallenden Strahlung konstruktive Interferenz auf, welche anhand von Peaks im Röntgenspektrum erfasst wird. Am IOT wird das Diffraktometer D5000 der Firma Siemens eingesetzt (Bragg-Brentano-Geometrie).
Ansprechpartner: Dipl.-Ing. Christian Kipp
Tel.: +49 (0) 531 2155-836
für Vorlesungen, Seminarvorträge und Prüfungen:
Vorlesungen und Seminarvorträge des IOT finden im Fraunhofer IST, Riedenkamp 2, 38108 Braunschweig statt.
Prüfungen werden im Raum I.2.62 im 2. OG im Riedenkamp 2 durchgeführt.
Technische Universität Braunschweig
Institut für Oberflächentechnik
Riedenkamp 2
38108 Braunschweig