Petz, M.; Hagen, P.-F.; Tutsch, R.: Mehrwellenlängen-Verfahren zur strukturierten Beleuchtung. In: T. Längle, M. Heizmann (Hrsg.): Forum Bildverarbeitung 2022, Karlsruhe, 2022, S. 1-13, https://doi.org/10.5445/KSP/1000150865
Tutsch, R., Petz, M.; Dierke: Advances in deflectometric form measurement. Oral presentation at ICO-25 on September 8th, 2022, in TS 11-3-02, extended abstract online available at https://ico25.org/
Petz, M.; Hagen, P.-F.; Tutsch, R.: A multi-wavelength approach to structured illumination. Oral presentation at OPTM 2022 on April 21st, 2022, published in Proc. SPIE 12480, Optical Technology and Measurement for Industrial Applications Conference 2022, 124800A (8 December 2022); https://doi.org/10.1117/12.2660166
Lehrmann, K.; Härtig, F.; Tutsch, R.: Auslegung neuartiger Transferkörper für die Kalibrierung von Massenormalen. tm – Technisches Messen, 89(7-8); S. 478-492
Thiesler, J.; Ahbe, T.; Tutsch, R.; Dai, G.: True 3D Nanometrology: 3D-Probing with a Cantilever-Based Sensor. Sensors 22/2022, Seite 314 (Tagungsband)
Spichtinger, J.; Schulz, M.; Ehret, G.; Tutsch, R.: Traceable stitching interferometry for form measurement of moderately curved freeform surfaces. Optical-Engineering Vol. 61(9)
Petz, M.; Dierke, H.; Tutsch, R.: Wellenlängenoptimierung bei Heterodyn-Phasenschiebeverfahren. In: tm - Technisches Messen, Heft 87 (2020) 10, S. 599-613, Online erschienen am 22.09.2020, https://doi.org/10.1515/teme-2019-0136
Petz, M.; Dierke, H.; Tutsch, R.: Advances in deflectometric form measurement. In: M. Heizmann, T. Längle (Hrsg.): Forum Bildverarbeitung 2020, Karlsruhe, 2020, S. 157-169, https://doi.org/10.5445/KSP/1000124383
Nitsche, J.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Dynamic characterization of multi-component sensors for force and moment. Journal of Sensors and Sensor Systems, Vol. 7 (2018) 2, pp. 577-586, https://doi.org/10.5194/jsss-7-577-2018
Nitsche, J.; Bruneniece, S.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Design of a calibration setup for the dynamic analysis of multi-component force and moment sensors. Journal of Physics: Conference Series, Vol. 1065, pp. 042004, https://doi.org/10.1088/1742-6596/1065/4/042004
Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Optische Inspektion spiegelnder und transparenter Oberflächen. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.): VDI-Berichte 2326, 6. VDI-Fachtagung „Optische Messung von Funktionsflächen 2018“, Düsseldorf : VDI, 2018, S. 107-118
Petz, M.; Dierke, H.; Tutsch, R.: Photogrammetrische Bestimmung der Brechungseigenschaften von Flüssigkristallbildschirmen für die Deflektometrie. In: DGaO (Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik) 119. Jahrestagung (Tagungsband), 22.-26.05.2018 in Aalen, S. 80
Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Defekterkennung an spiegelnden und transparenten Oberflächen durch Abbildung einer örtlich modulierbaren Lichtquelle. tm - Technisches Messen, Heft 85 (2018) 2, S. 79-87, https://doi.org/10.1515/teme-2017-0088
Nitsche, J.; Frese, J.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Dynamische mehrdimensionale Kraftmesstechnik mittels Nahbereichsphotogrammetrie. In: Tagungsband Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3D-Messtechnik: Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2018, 31.01.-01.02.2018 in Oldenburg, S.22–29, ISBN: 978-3-87907-643-7
Borges de Oliveira, F.; Bartscher, M.; Neuschaefer-Rube, U.; Tutsch, R.; Hiller, J.: Creating a Multi-Material Length Measurement Error Test for the Acceptance Testing of Dimensional Computed Tomography Systems. In: 7th Conference on Industrial Computed Tomography, 7.-9.2.2017 in Leuven/Belgium (iCT 2017), pp. 1-12 http://www.ndt.net/?id=20847
Fischer, M., Petz, M., and Tutsch, R.: Statistical characterization of evaluation strategies for fringe projection systems by means of a model-based noise prediction. In: Journal of Sensors and Sensor Systems (JSSS), Volume 6, 2017, pp. 145-153, https://doi.org/10.5194/jsss-6-145-2017
Tutsch, R.; Demuth, S.: Objektive Bewertung der Reflexionsoptik von Fahrzeugverglasungen. In: Tagungsband Photogrammetrie-Laserscanning Optische 3D-Messtechnik, Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2017, 01.02.-02.02.2017 in Oldenburg, S.309-408, ISBN: 978-3-8-87907-625-3
Puschke, A.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: GPU-based raytracing for accelerating deflectometric asphere measurements. 18th International Congress of Metrology, 2017, https://doi.org/10.1051/metrology/201714007
Nitsche, J.; Röske, D.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Unsicherheitsabschätzung bei der Kalibrierung sechsachsiger Kraft-Momenten-Sensoren. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2319, Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, 8. Fachtagung Erfurt, 15. und 16. November 2017, Düsseldorf : VDI, 2017
Nitsche, J.; Röske, D.; Tutsch, R.: Influence of Coordinate System Alignment on the Calibration of Multi-Component Force and Moment Sensors. In: IMEKO TC3, TC5, TC22 Conference 2017, 30 May - 01 June 2017, Helsinki, Finland, http://www.imeko.org/publications/tc3-2017/IMEKO-TC3-2017-017.pdf
Liu, P.; Jusko, O.; Tutsch, R.: Hybrid data fusion strategy fort he low-uncertainty 3D calibration of cylinder standards. In: Measurement Science and Technology 28 (2017) 065013 (10pp), DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6501/aa6462
Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Defekterkennung an spiegelnden und transparenten Oberflächen durch Abbildung einer flächenhaft modulierbaren Lichtquelle. In: DGAO (Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik) 118. Jahrestagung (Tagungsband), 06.-10.06.2017 in Dresden, Seite 46
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Modellbasierte Rauschvorhersage für Streifenprojektionssysteme – Ein Werkzeug zur statistischen Analyse von Auswertealgorithmen. In: tm (Technisches Messen) 2017, Volume 84, Number 2, De Gruyter, S. 111-122, ISSN: 0171-8096, e-ISSN 2196-7113
Nitsche, J.; Baumgarten, S.; Petz, M.; Röske, D.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Measurement uncertainty evaluation of a hexapod-structured calibration device for multi-component force and moment sensors. In: Metrologia, Volume 54, Number 2, Page 171, DOI: https://doi.org/10.1088/1681-7575/aa5b66
Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Model-based noise estimation for fringe projection systems. In: 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016, 10. Und 11. Mai 2016 in Nürnberg, S. 534-539, ISBN-Nr. 978-3-9816876-0-6
Keck, C., Tutsch R.: Ein stereophotogrammetrischer Sensor mit einem Strahlteiler aus Prismen. In: 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016, 10. und 11. Mai 2016 in Nürnberg, S. 330-334, ISBN-Nr. 978-3-9816876-0-6
Nitsche, J.; Petz, M.; Röske, D.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Geometric characterization of a hexapod-structured calibration device for multi-component force and moment transducers. In: International Symposium on Optomechatronic Technologies 2016, 07. - 09.11.2016, Tokyo, Japan
Tutsch, R.; Fischer, M.: Beiträge zur Messunsicherheit bei deflektometrischen Messverfahren, Systematische und stochastische Störeinflüsse. In: VDI-Berichte 2285, 5. VDI-Fachtagung Optische Messung von Funktionsflächen 2016, 28. und 29.06.2016 in Nürtingen, Seite 111-120, ISBN-Nr. 978-3-18-092285-0
Teichmann, M.; Kassner, H.; Schuth, E.; Neumann, S.; Kawala, D.; Reipschläger, P.; Maciejewski, C.; Nitsche, J. E.; Zhao, L.; Bobzin, K.; Mauer, G.; Vassen, R.: Near Net Shape Coatings with Enhanced Surface Roughness and Superior Coating Properties. In: Turbine Forum 2016 - Advanced Coatings for High Temperatures, 27. - 29.04.2016, Nice, France
Tutsch, R.; Han, S.; Dierke, H.: Reducing the influence of speckle structures on laser light sectioning sensors. In: Measurement Science and Technology, Volume 27, Number 12, Seite 124003, DOI: http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/27/12/124003
Tutsch, R., Petz, M., Fischer, M.: Das Triangulatiosprinzip – der Kern der optischen 3D-Messtechnik. In: Tagungsband Photogrammetrie-Laserscanning Optische 3D-Messtechnik, Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2016, 03.02.2016, ISBN:978-3-87907-604-8
Tutsch, R.; Han, S.; Dierke, H.: Reducing the influence of speckle structures on laser light sectioning sensors. In: Proceedings of the 12th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2015) 22-25 September, Taipei, Taiwan, 2015
Tutsch, R.; Jusko, O.; Liu, P.: Data fusion for cylindrical form measurements. In: Surface Topography: Metrology and Properties, Volume 3 (2015), Number 4, 045004, IOP Publishing Ltd., doi: http://dx.doi.org/10.1088/2051-672X/3/4/045004
Tutsch, R., Galovska, M.: Erweiterung des Anwendungsbereiches und Verringerung der Messunsicherheit. In: VDI-Tagung Multisensorik in der Fertigungsmesstechnik 2015, 17. und 18.03.2015 in Nürtingen, Seite 123-131, ISBN 978-3-942980-38-8
Dierke, H.; Tutsch, R.: Transparente Materialien optisch messen. In: wt Werkstatttechnik online, Jahrgang 105, Heft 11/12-2015, Seite 770-774
Komander, B.; Lorenz, D.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Data fusion of surface normals and point coordinates for deflectometric measurements. In: Journal of Sensors and Sensor Systems (JSSS), Volume 3, 2014, pp. 281-290, doi: 10.5194/jsss-3-281-2014
Tutsch, R., Dierke, H.: Correction of Systematic Errors in the Measurement of thin layers with Optical Surface Profilers. Vortrag auf 6th „CIMM-PTB Seminar on Dynamic Measurement and Nanometrology“, PTB Braunschweig und Berlin, visit of Chinese Delegation (CIMM, NIM) in Braunschweig, 22.-25.09.2014
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Model-based deflectometric measurement of transparent objects. Oral presentation at EOSAM 2014, 15.-19. September 2014, Berlin 2014
Tutsch, R., Dierke, H.: Correction of systematic errors in the step-height measurement with optical surface profilers. In: Proceedings of the 11th IMEKO TC14 Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry (LMPMI2014), Tsukuba, Japan 03.-05.09.2014, pp. 205-207, ISBN 978-1-63266-731-1
Hernández, C.; Tutsch, R.: Response delay and predictive estimation of specifications for assemblies. In: Int. J. Mechatronics and Manufacturing Systems, Vol. 7, Nos. 2/3, 2014, pp. 210-224
Dierke, H.; Fischer, M.; Schrader, C.; Nitsche, J.-E.; Abd-Elmageed, A.; Tutsch, R.: Bestimmung der Auslenkung von Mikrotastern mit optischen Methoden. In: tm - Technisches Messen Heft 81 (2014) 6, De Gruyter, S. 305-315, ISSN 0171-8096, e-ISSN 2196-7113
Broistedt, H., Tutsch, R.: Zufalls-Phasenschiebe-Interferometer zur Messung sphärischer Oberflächen. In: Sensoren- und Messsysteme 2014, ITG-Fachbericht, Band 250, 03.-04.06.2014 in Nürnberg, VDE-Verlag, ISBN 978-3-8007-3622-5
Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Modellbasierte deflektometrische Messung von transparenten Objekten. In: tm - Technisches Messen Heft 81 (2014) 4, S. 190-196
Gnieser, D., Frase, C. G., Bosse, H., Tutsch, R.: A virtual instrument for SEM uncertainty analysis. In: Key Engineering Materials, Vol. 613 (2014), pp. 101-107
Galovska, M.; Krystek, M.; Tutsch, R.: Curvature radii characterization based on point clouds (Charakterisierung von Krümmungsradien anhand von Punktewolken). In: tm - Technisches Messen, Heft 81 (2014) 1, S. 39-47
Hernández, C., Tutsch, R.: Consideration of the Measurement Uncertainty in the Assembling of Components Characterized by High Dimensional Variation. In: Journal of Physics: Conference Series, 2013 Joint IMEKO TC1-TC7-TC13, Symposium: Measurement Across Physical and Behavioural Sciences, Volume 459, (2013), 012037, Genova/Italy, 4.-6.09.2013, ISSN: 1742-6588
Fischer, M.; Nitsche, J.E.; Petz, M.; Tutsch, R.: Einfluss der Messpunktdichte bei Anwendung der Extremwertstatistik. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2216, Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, 6. Fachtagung Braunschweig, 5. und 6. November 2013, Düsseldorf : VDI, 2013, S. 143-154
Nitsche, J.E.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Measurement of the Geometry of Transmissive Optical Elements with Deflectometry In: International Symposium of Optomechatromics 2013, Oct. 27 - 30, Jeju, Korea
Dierke, H.; Tutsch, R.: Materialeinfluss bei der optischen Messung von transparenten Schichten. In: 6. Kolloquium Mikroproduktion (Tagungsband), Shaker Verlag, 2013, ISBN 978-3-8440-2243-8
Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Systematic errors in deflectometry induced by use of liquid crystal displays as reference structure. 21st IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement, 16-18 September 2013, Gdańsk, Poland
Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Modellbasierte deflektometrische Messung von transparenten Objekten. In: AHMT-Tagungsband XXVII. Messtechnisches Symposium, 12.-14.09.2013 in Zürich, Shaker Verlag, S. 139-150, ISBN: 978-3-8440-2124-0
Broistedt, H.; Tutsch, R.: Random phase shift interferometer for the measurement of spherical surfaces. In: Fringe 2013 – 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, 9.-11.09.2013 in Nürtingen, Springer Verlag, S. 417-422, ISBN: 978-3-642-36358-0
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Model-Based Deflectometric Measurement of Transparent Objects. In: Fringe 2013 – 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, 9.-11.09.2013 in Nürtingen, Springer Verlag, S. 573-576, ISBN: 978-3-642-36358-0
Tutsch, R.; Nitsche, J.E.; Fischer, M.; Petz, M.: Korrelation optischer und taktiler Messungen In: Tagungsband VDI-Wissensforum, Form- und Konturmesstechnik 2013, Leonberg, 04.-05.06.2013.
Dierke, H., Fischer, M., Abd-Elmageed, A.-E., Nitsche, J., Schrader, C., Tutsch, R.: Detection of the Displacement of Micro touch Probes Using Structured Illumination. In: International Journal of Optomechatronics, Vol. 7, pp. 136-148, ISSN: 1559-9612, 2013
Tutsch, R.; Hernández, C.: Feed-Forward-Regelung von Prozessketten – Fähige Prozesse trotz nicht fähiger Teilprozesse. In: wt Werkstattstechnik online, Jahrgang 103 (2013) Heft 11/12
Dierke, H., Fischer, M., Abd-Elmageed, A., Nitsche, J., Schrader, C. and Tutsch, R. : Detection of the displacement of micro touch probes using structured illumination. In: International Symposium of Optomechatromics 2012, Oct 29-31, Paris, France
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Online-Bestimmung der aufgabenspezifischen zufälligen Abweichungen phasenmessender optischer Sensoren. In: Forum Bildverarbeitung 2012, Tagungsband (KIT) (Seite 59-70), Regensburg, November 2012, ISBN: 978-3-86644-927-5
Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.; Krystek, M.: Approach for the form measurement of rotationally symmetric workpieces. In: Michal Wieczorowski (ed.) et. al.: Implementation of Coordinate Metrology. University of Bielsko-Biala, Poland, 04/2012 pp. 103-113, ISBN: 978-83-63713-22-5
Petz, M.; Tutsch, R.; Christoph, R.; Andraes, M.; Hopp, B.: Tactile-optical probes for three-dimensional microparts. In: Measurement 45 (2012) 10, pp. 2288-2298
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Vorhersage des Phasenrauschens in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. In: tm - Technisches Messen, Heft 79 (2012) 10, S. 451-458
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Vorhersage des Phasenrauschens in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. Sensoren und Messsysteme 2012, 16. GMA/ITG-Fachtagung, 22.-23. Mai, Nürnberg, 2012, S. 374-385
Dierke, H.; Schrader, C.; Tutsch, R.: Detection of Micro-Probe Displacement using a Shack-Hartmann Wavefront Sensor. In: International Journal of Optomechatronics, Vol. 6, 2012, pp. 226-235, ISSN: 1559-9612
Tutsch, R.: Optische Messsysteme. In.: Weckenmann, A. (Hrsg.): Koordinatenmesstechnik, Kapitel 5.5, Optische Messsysteme, S. 216-228, ISBN: 978-3-446-40739-8
Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion dimensioneller Messungen. In: tm - Technisches Messen, Heft 79 (2012) 4, S. 238-245
Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion von Koordinatenmessungen. In.: Sensoren und Messsysteme 2012, 16. GMB/ITG-Fachtagung, 22.-23.05.2012, Nürnberg, S. 578-588
Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Approach for the form measurement of rotationally symmetric workpieces. In.: Xth International scientific conference „Coordiante Measuring Technique“, 23rd-25th of April 2012, Bielsko-Biala, Poland
Dierke, H.; Tutsch, R.: Optical measurement of the layer thickness of transparent materials In.: Proc. SPIE 8430, „Optical Micro- and Nanometrology IV“, Brussels, Belgium, April 16-19, 2012, p. 843008
Galovska, M.; Tutsch, R.; Jusko, O.: Data fusion techniques for cylindrical surface measurements. In.: Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing, Vol. 9, (F. Pavese, M. Bär, J.-R. Filtz, A. B. Forbes, L. Pendrill, H. Shirono, eds.), Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences Vol. 84, World Scientific, Singapore, 2012, p. 179-186.
Galovska, M., Tutsch, R.: Measurement uncertainty associated with coordinate Mesarsurements: Evaluation and Reduction. In.: Metromeet 2012, 8th International Conference on Industrial Dimensional Metrology, 8.+9.03.2012 in Bilbao/Spanien
Schrader, C. , Tutsch, R. : Calibration of a microprobe array. Measurement Science and Technology 23 () 054001 (9pp), 2012
Tutsch, R.; Keck, Chr.: Berührungslos Messen – mit Licht. Institut für Produktionsmesstechnik forscht auf Gebiet der optischen Messtechnik. IQ-Journal 1/2012, S. 18-19. VDI Bezirksverein Braunschweig, Januar 2012.
Keck, C.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phasenrauschen bei Messungen mit strukturierter Beleuchtung. 3D-NordOst 2011 - 14. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Modellierung, Verarbeitung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 08.-09.12.2011, S. 7-16
Jansen, C.; Priebe, S.; Möller, C.; Jacob, M.; Dierke, H.; Koch, M.; Kürner, T.: Diffuse Scattering From Rough Surfaces in THz Communication Channels. In IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, November 2011, Volume 1, Nummer 2 ITTSBX, S. 462-472, ISSN 2156-342X
Schrader, C., Krah, T., Tutsch, R. Büttgenbach, S.: Parallelisierte taktile Messtechnik für Mikrostrukturen. In: Abschlussbericht, DFG Schwerpunktprogramm 1159, StraMNano (07.10.2011 in Erlangen) S. 19-35, ISBN: 978-3-8440-0358-1
Tan, Ö., Krah, T., Neuschaefer-Rube, U., Ehrig, W., Viering, B., Herffurth, T., Schröder, S.. Lyda, W., Eigenbrod, H., Hoffmann, R., Weißensee, K., Apel, S., Pedrini, G., Gaspar, J., Schrader, C., Zschiegner, N.: Bestimmung der Messunsicherheit in Mikrometer Bereich – Strategien, Modelle und Einflussfaktoren. In: Abschlussbericht, DFG Schwerpunktprogramm 1159, StraMNano (07.10.2011 in Erlangen) S. 188-205, ISBN: 978-3-8440-0358-1
Broistedt, H.; Doloca, R.; Strube, S.; Tutsch, R.: Random-phase-shift Fizeau interferometer. In: Applied Optics Vol. 50, Iss. 36, pp. 6564–6575 (2011)
Hernández, C.; Tutsch, R.: Influence of the Look-up Window size when applying a Forward-Looking Controller. International Conference AMCTM „Mathematical Tools for Measurements“, June 20-22, Göteborg/Sweden, 2011
Hernández, C.; Tutsch, R.: Influence of The Sampling Strategy on Feed-Forward Control. The 2nd International Congress on Mechanical Metrology (II CIMMEC), September 27-30, Natal-Brazil, 2011
Tutsch, R., Hernández, C.: Fähige Prozessketten durch Feed-Forward-Control und Dynamisches Toleranzmanagement. In: KIT Scientific Reports 7591, (11.-12.10.2011 Karlsruhe), Abschlusskolloquium SFB 499, S. 119-124, ISBN: 978-3-86644-747-9
Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion dimensioneller Messungen. In: XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2011, S. 253-264
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phasenrauschen in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. In: XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2011, S. 115-125
Brand, U.; Beckert, E.; Beutler, A.; Dai,G.; Stelzer, C.; Hertwig, A.; Klapetek, P.; Koglin, J.; Thelen, R.; Tutsch, R.: Comparison of optical and tactile layer thickness measurements of polymers and metals on silicon or SiO2. In: Measurement Science and Technology 22 (2011) 094021 (14 pp.)
Tutsch, R.; Petz, M.; Fischer, M.: Optical three-dimensional metrology with structured illumination. In: Optical Engineering 50 (10), 101507 (October 2011)
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Online Phase Noise Estimation in Structured Illumination Measurement Systems. ISMTII-2011, Daejeon, Korea, 29.6.-2.7.2011. Proceedings p. 104 (abstract)
Hernández, C.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Dynamic specifications by forward-looking controlling. ISMTII-2011, Daejeon, Korea, 29.6.-2.7.2011. Proceedings p. 108 (abstract)
Schrader, C.;Tutsch, R.: Calibration of a Micro Probe Array. ISMTII-2011, Daejeon, Korea, 29.6.-2.7.2011. Proceedings p. 100 (abstract)
Dierke, H.; Schrader, C.; Tutsch, R.: Detection of micro-probe displacement using a Shack-Hartmann wavefront sensor. In: Proc. of SPIE, Vol. 8082, München 23.-26.05.2011, pp. 80820K-1-8
Dierke, H.; Fischer, M.; Tutsch, R.; Casarotto, L.: Optisches Extensometer zur Verfolgung propagierender Verformungsbänder. In: Zeitschrift „tm“ Technisches Messen 4/2011, S. 211-217
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phase Noise in Structured Illumination Systems. In: Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement, 16.-18.05.2011 , Linz/Austria, pp. 63-68, ISBN: 978-3-8440-0058-0
Galovska M.; Tutsch, R.: Data fusion techniques in dimensional metrology. In: Innovalia Association (Publ.): Metromeet 2011 - 7th International Conference on Industrial Dimensional Metrology (31.03.-01.04.2011, Bilbao, Spanien). - Proceedings on CD-ROM.
Zebian, M.; Galovska, M.; Hensel, J.; Fedtke, T.: Uncertainty study on the characterisation of ear canal probes. In: Systems of information processing, 2011, Issue 1 (91). Kharkiv,Ukraine, Februar 2011, p. 116-122, ISSN 1681-7710
Tutsch, R.; Doloca, R.; Broistedt, H.: Analysis of Interferograms by Random Phase Shift Evaluation. In: XXXV OSI Symposium, International Conference on Contemporaray Trends in Optics and Optoelectronics. 17.-19.01.2011 in Thiruvananthapuram/Indien, Seite 87
Broistedt, H., Tutsch, R.;: Determination of Stochastic Phase Shifts in Random Phase Shift Interferometric Testing of Spherical Surfaces. In:10th IMEKO Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry (LMPMI), VDI Verlag GmbH Düsseldorf, 2011, S. 105-111
Ruprecht, A.; Böwer, J.; Eggers, J.-H.; Tutsch, R.: Optische Präzisionsmessung von Nick-, Gier- und Rollwinkel mittels Autokollimator. In: 112. Jahrestagung der DGaO,Ilmenau, DGaO-Proceedings, ISSN: 1614-8436, 2011
Keck, Chr.; Berndt, M.; Tutsch, R.: Stereophotogrammetry in Microassembly. In: Büttgenbach, S.; Burisch, A.; Hesselbach, J.: Design and Manufacturing of Active Microsystems. Springer-Verlag Berlin und Heidelberg 2011. S. 309-326
Tutsch, R.; Petz, M.; Galovska, M.: Strategy and uncertainty evaluation of cylindrical and spherical measurements without rotation axis. In: 3rd International Conference MANUFACTURING 2010, Institute of Mechanical Technology, Poznan University of Technology, Poznan, Poland, 2010, p. 194
Tutsch, R.; Petz, M.; Schrader, Chr.: Kleinste Merkmale mit Koordinatenmessgeräten messen - taktil und berührungslos. In: VDI-Berichte 2120, Koordinatenmesstechnik 2010 - Technologien für eine wirtschaftliche Produktion, 8. VDI-Fachtagung, Braunschweig, 3. und 4. November 2010, Düsseldorf : VDI, 2010, S. 61-69
Galovska, M.; Warsza, Z.: Estymatory wartości mezurandu próbek danych o rozkładach niegaussowskich. In: Metrologia dziś I jutro, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław, 2010, ISBN-978-83-7493-539-5, S. 50-72
Dierke, H.; Fischer, M.; Casarotto, L.; Tutsch, R.: Optisches Extensometer zur Verfolgung propagierender Verformungsbänder. In: XXIV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2010, S. 179-189
Hernandez, C.; Tutsch, R.: Capable Production Processes by Dynamic Tolerancing. In: Proceedings of the 10th International Symposium on Measurement and Quality Control, September 5.-9., 2010, Osaka, Japan, ISBN 978-4-9905119-1-3, pp. D3-031-1-4
Tutsch, R.; Andraes, M.; Neuschaefer-Rube, U.; Petz, M.; Wiedenhoefer, T.; Wissmann, M.: Tactile-Optical Microprobes for three Dimensional Measurements of Microparts. In: Proceedings of the 10th International Symposium on Measurement and Quality Control, September 5.-9., 2010, Osaka, Japan, ISBN 978-4-9905119-1-3, pp. E2-032-1-4, rewarded the "Outstanding Paper Award" (105.03 KiB) of ISMQC 2010
Broggiato, G. B.; Ferrari,D.; Fischer, M., Veglianti, V.:Sheet-Metal Assessment at Medium Strain-Rates by Digital Image Correlation. STRAIN. 46 (2010) 4, S. 396-403
Tutsch, R.; Petz, M.; Galovska, M.: Messstrategie für zylindrische Werkstücke ohne Verwendung einer Rotationsachse. In: Tagungsband VDE-Wissensforum, Form- und Konturmessung, Leonberg, 15.-16.06.2010
Gnieser, D.; Frase, C. G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Model-based Correction of Image Distortion in Scanning Electron Microscopy. In: Key Engineering Materials Vol. 437 (2010), pp. 40-44, ISBN 978-0-87849-273-2
Schrader, C.; Herbst, C.; Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Krah, T.: Micro Coordinate Measuring Machine for Parallel Measurement of Microstructures. In: Key Engineering Materials Vol. 437 (2010), pp. 136-140, ISBN 978-0-87849-273-2
Gnieser, D.; Frase, C.G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Modell-basierte Korrektur von Bildverzerrungen in der Rasterelektronenmikroskopie. In: XXIII. Messtechnisches Symposium des AHMT, 17.-19. September 2009 in Bremen, Tagungsband, S. 217-225
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Evaluation of LCD monitors for deflectometric measurement systems. In: Optical Sensing and Detection, 12.-16.04.2010 in Brüssel/Belgien. Proc. of SPIE, Vol. 7726, pp. 77260V-1-77260V-10
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Bewertung von LCD-Monitoren für deflektometrische Messsysteme. In: Sensoren und Messsysteme 2010, Vorträge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18.-19. Mai in Nürnberg, 2010, S. 159-165
Petz, M.; Tutsch, R.; Andräs, M.; Wiedenhöfer, T.; Hopp, B.: Stereophotogrammetric Tactile-Optical Probe for Three-Dimensional Microparts. In: Advances in Coordinate Metrology, University of Bielsko-Biała, Bielsko-Biała, 2010, ISBN 978-83-62292-56-1, pp. 275-284
Herbst, Chr.; Tutsch, R.: Simulation of a Micro Coordinate Measuring Machine for Parallel Measurement of Microstructures. In: Advances in Coordinate Metrology, University of Bielsko-Biała, Bielsko-Biała, 2010, ISBN 978-83-62292-56-1, pp. 15-24
Fischer,M.; Casarotto,L.; Tutsch, R.:Optical Control of a Movable High-Speed Camera for Multiscale PLC-Band Propagation Tracking. In: International Journal of Optomechatronics, Vol. 4 (2010) 1, S. 51-64
Tutsch, R.; Petz, M.; Andräs, M.; Wiedenhöfer, T.; Neuschaefer-Rube, U.; Wissmann, M.: Taktil-optischer 3D-Taster zur Messung von Mikrobauteilen. In: tm - Technisches Messen, Heft 77 (2010) 2, S. 95-100
Schrader, Ch.; Tutsch, R.; Herbst, Ch.;Büttgenbach, S.; Krah, T.: Micro Coordinate Measuring Machine for Parallel Measurement of Microstructures. Key Engineering Materials, Vol. 437, 2010 , pp. 136-140, ISBN 0-87849-273-9
Galovska, M., Warsza, Z.: The ways of effective estimation of measurand. In: Pomiary Automatyka Komputery 1/2010, ISSN 1889-6981, pp. 19-20
Keck, Ch.; Eggers, J.-H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Ein Verfahren zur Messung der räumlichen Position und Orientierung von Mikrobauteilen mit planaren Strukturen. In: L. Paul, Prof. G. Stanke / M. Pochanke: 3D-NordOst 2009 - 12. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Modellierung, Verarbeitung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 2009, S. 81-90
Rathmann, S.; Ellwood, J.; Hemken, G.; Keck, Chr.; Böhm, S.; Tutsch, R.; Raatz, A.: Präzisionsmontage schmelzklebstoffbeschichteter Bauteile mit Hilfe eines 3D-Bildsensors. In: Vollertsen, F.; Büttgenbach, S.; Kraft, O.; Michaeli, W. (Hrsg.): 4. Kolloquium Mikroproduktion. Fachbeträge der vier SFB der Mikrotechnik. Bremen, 28.-29. Oktober 2009, S. 151-156.
Weichert, Ch.; Flügge, J.; Köning, R.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Aspects of design and the characterization of a high resolution heterodyne displacement interferometer. In: 6th International Workshop on Advanced Optica Metrology. Fringe 2009, Springer, S. 263-268
Fischer, H.,; Tutsch, R.: Digital holographic interferometry for deformation measurement by means of an acoustical device. In: 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology. Fringe 2009, Springer, pp. 472-476
Broistedt, H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Force transducer based on a geometric-optical displacement sensor. In: ISOT 2009. International Symposium on Optomechatronic Technologies, 2009, pp. 164-168
Broistedt, H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Kraftaufnehmer auf Basis eines geometrisch-optischen Längenmesssystems. In: XXIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2009, S. 13-24
Casarotto, L.; Dierke, H.; Tutsch, R,; Neuhäuser, H.: On nucleation and propagation of PLC bands in an Al-3Mg alloy. In: Materials Science and Engineering A, 527 (2009), S. 132-140
Broggiato, G.B.; Casarotto, L.; Del Prete, Z.; Maccarrone, D.: Full-Field Strain Rate Measurement by White-Light Speckle Image Correlation. In: Strain - An International Journal for Experimental Mechanics, 45 (2009) 4, S. 364-372
Gnieser, D.; Frase, C.G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Model-based correction of image distortion in scanning electron microscopy. In: Proceedings of ISMTII-2009, Volume 1, pp. 1-147 - 1-151
Schrader, C.; Herbst, C.; Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Krah, T.: Micro coordinate measuring machine for parallel measurement of microstructures. In: Proceeding of ISMTII-2009, Volume 2, pp. 2-123 - 2-127
Tutsch, R.; Berndt, M.: Miniaturisierter photogrammetrischer 3D-Sensor. InnovationsForum Photonik, Optische Sensorik, 12. Mai 2009 in Goslar (Tagungsband zur Verleihung des Kaiser Friedrich Forschungspreises 2009), S. 52-53
Tutsch, R.; Andräs, M.; Neuschaefer-Rube, U.; Petz, M.; Wiedenhöfer, T.; Wissmann, M.: Three dimensional tactile-optical probing for the measurement of microparts. In: Proceedings of SENSOR 2009, Volume II, pp. 139-144
Schrader, C.; Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Krah, T.: Application of a Touch-Probe for the Parallel Measurement of Microstructures. In: Proceedings of SENSOR 2009, Volume II, pp. 289-293
Tutsch, R.: Geometric Metrology in Microproduction. In: VDI/VDE-IT mstnews 01/09 pp. 14-15
Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Three-dimensional shape measurement of aspheric refractive optics by pattern transmission photogrammetry. In: Beraldin, J. A.; Cheok, G. S.; McCarthy, M.; Neuschaefer-Rube, U. (ed.): Proc. SPIE Vol. 7239 (2009) - Three-Dimensional Imaging Metrology, pp. 723906-1 - 723906-8
Rathmann, S.; Schöttler, K.; Berndt, M.; Hemken, G.; Raatz, A.; Böhm, S.; Tutsch, R.: Sensor-guided micro assembly of active micro systems by using a hot melt based joining technology. In: Microsystem Technologies, Volume 14, Issue 12 (2008) 14, pp. 1975-1981
Doloca, R.; Broistedt, H.; Tutsch, R.: Phase-shift Fizeau interferometer in presence of vibration. In: Novak, E. L.; Osten, W.; Gorecki, Chr. (ed.): Proc. SPIE Vol. 7064_2 (2008) - Interferometry XIV: Applications
Doloca, R.; Tutsch, R.: Random-phase-shift Fizeau interferometer. In: Quan, C.; Asundi, A. (ed.): Proc. SPIE Vol. 7155_27 (2008) - Ninth International Symposium on Laser Metrology
Broggiato, G.B.; Ferrari, D.; Fischer, M.; Veglianti, V.: Caratterizzazione di lamiere sottili a media velocità di deformazione mediante correlazione numerica di immagini speckle. AIAS (Italian Association for Stress Analysis) – 37. Convegno Nazionale dell'Associazione Italiana, 10.-13. September 2008, Università di Roma „La Sapienza“, Italia, 2008
Fischer, M.; Broggiato, G.B.; Ferrari, D.; Tutsch, R.; Veglianti, V.: Measurement of sheet-metal planar anisotropy at medium strain-rates by digital image correlation. 25.-26. August 2008, Prague, Czech Republic, 2008
Gnieser, D.; Frase C.G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: MCSEM-a modular Monte Carlo simulation program for various applications in SEM metrology and SEM photogrammetry. 14th European Microscopy Congress 1.-5. September 2008 in Aachen, Volume 1 Instrumentation and Methods, Seite 540-550
Keck, Chr.; Berndt, M.; Tutsch, R.: Ein photogrammetrischer Sensor für die Mikromontage. 22. Messtechnisches Symposium AHMT e.V., 11.-13. September 2008 in Dresden, Seite 169-180
Tutsch, R.; Petz, M.; Keck, C.: Optical 3D measurement of scattering and specular reflecting surfaces. In: Journal of Physics: Conference Series, UK, Band 139 (2008), Seite 012008 (6 Seiten).
Tutsch, R.; Herbst, Chr.: Erfassung von Standardgeometrieelementen im Mikrometerbereich. In: tm - Technisches Messen 75 (2008) 5, S. 327-338
Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Dreidimensionale Formerfassung von asphärischen refraktiven Optiken mittels Rasterphotogrammetrie in Transmission. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2011, Sensoren und Messsysteme 2008, 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. März 2008, Düsseldorf : VDI, 2008, S. 397-408
Fischer, H.; Tutsch, R.: Akustisch reflexionsholographische Interferometrie zur Verformungsmessung. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2011, Sensoren und Messsysteme 2008, 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. März 2008, Düsseldorf : VDI, 2008, S. 197-209
Berndt, M., Tutsch, R., Rathmann, S., Böhm, St., Hemken, G., Raatz, A., Schöttler, K.: Einsatz von Schmelzklebstoffen bei der sensorgeführten Montage aktiver Mikrosysteme. In: Kolloquium Mikroproduktion - Forschritte-Verfahren-Anwendungen, 21.-23.11.2007 in Karlsruhe (Forschungszentrum), ISBN: 978-3-923704-61-3
Fischer, M., Casarotto, L., Strube, S., Tutsch, R.: Tracking the propagation of type B PLC bands. In: Optomechatronic Sensors and Instrumentation III, Proc. of SPIE Vol. 6716, 671604, Lausanne, 2007
Fischer, M., Casarotto, L., Tutsch, R.: Two-camera-setup for the dynamic measurement of moving dislocations in aluminum alloys. 4th CIMM-PTB Seminar - Dynamic Calibration and Measurement. 15.-16. Oktober 2007, Braunschweig, 2007
Berndt, M., Tutsch, R.: Accurate and robust optical 3D position control in microassembly using fluorescent fiducial marks. In: Optomechatronic Sensors and Instrumentation III, Proc. of SPIE Vol. 6716, 67160N-1, Lausanne, 2007
Molnar, G., Tutsch, R.: Vertical scanning interferometry with a mixed-coherence light source. Osten, W.; Gorecke, C.; Novak, E. L. (eds.): Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V, Proceedings of SPIE Vol. 6616, 661608 (2007), 18.-21.06.2007 in München
Broggiato, G.B., Casarotto, L., Del Prete, Z., Maccarone, D.:Full-field strain rate measurement by white-light speckle image correlation. Gdoutos, E.E. (ed.), Proceedings of the 13th International Conference on Experimental Mechanics ICEM 13, S. 353-354, Alexandroupolis, Greece, 2007, ISBN 978-1-4020-6238-4
Casarotto, L., Tutsch., R. Dierke, H., Neuhäuser, H.: Experimental investigation on the dynamics of PLC-bands in Al-Mg alloys. Gdoutos, E. E. (ed.) Proceedings of the 13th International Conference on Experimental Mechanics ICEM 13, alexandroupolis, Greece 2007, S. 163-164, ISBN 978-1-4020-6238-4
Fischer, M., Berndt, M., Petz, M., Tutsch, R.: Photogrammetrie in der Mikromontage, Industrielle Bildverarbeitung für automatisierte Produktionen. Fraunhofer IPA Workshop F149, 05.07.2007, Machine Vision Excellence 2007, S. 168-177, Stuttgart, 2007
Büttgenbach, S.; Brand, U.; Bütefisch, S.; Herbst, Ch.; Krah, T.; Phataralaoha, A.; Tutsch, R.: Taktile Sensoren für die Mikromesstechnik. GMA-Fachtagung „Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering“, Erlangen, 29. + 30.11.2006, In: VDI-Berichte 1950, S. 109-118, 2006
Doloca, R., Tutsch, R.: Vibration induced phase-shift interferometer. In SPIE Vol. 6292, Optics and Photonics 2006, Optics, Optomechanics and Metrology, Vol. 6285, 6286-6293, SPIE, 13.-17.08.2006 in San Diego, California/USA, ISBN-Nr. 0-8194-6371-x
Berndt, M., Hesselbach, J., Schöttler, K., Tutsch, R.,: Assembly of Hybrid Microsystems Using an Assembly System with 3D Optical Sensor. Annals of CIRP, Vol. 55/1, 2006, S. 11-14, Kobe, Japan
Fischer, H., Tutsch, R.: Akustisches Reflexionsverhalten unter Luftultraschalleinwirkung, 32. Deutsche Jahrestagung für Akustik, DAGA 20.-23. März 2006 in Braunschweig
Berndt, M., Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Hesselbach, J.; Hoxhold, B.; Schöttler, K.: Sensor Guided Handling and Assembly of Active Micro-Systems. Microsystems Technology (2006), ISSN 0946-7076 (200606) (Paper) 1432-1858 (Online), DOI 10.1007/s00542-006-0088-0, Springer-Verlag, Colloquium on Micro Production, Aachen, 2-3 March 2005, Seite 665-669
Tutsch, R., Petz, M.,: Ermittlung der Oberflächengeometrie aus Meßpunktewolken in der optischen 3D-Meßtechnik, Expertenforum „Informationsfusion in der Mess- und Sensortechnik“ am 21. und 22. Juni 2006 in Eisenach /VDI/VDE-Gesellschaft
Casarotto, L., Tutsch, R.: Investigation of the Portevin-Le Chatelier effect by means of an optical extensometer and of a triggered camera. Sensoren und Messsysteme 2006, Vorträge der 13. ITG/GMA-Fachtagung 13. und 14. März 2006 in Freiburg/Breisgau, S. 181-184
Tutsch, R.: Neue Trends bei berührungslosen und Multisensor Koordinatenmeßgeräten, In: VDI/VDE-Berichte 1914, Tagung Braunschweig 15. u. 16.11.2005, Seite 147-154
Büttgenbach, S.; Feldmann, M.; Hesselbach, J.; Schöttler, K.; Tutsch, R.; Berndt, M.: Referenzmarken bei der Montage aktiver Mikrosysteme, Mikrosystemtechnik Kongress, ISBN 3-8007-2926-1, S. 459-462, Freiburg, 2005
Molnar, G., Tutsch, R., Fischer, G.: Photogrammetry in SEM-Microscopy. In: Grün, A., Kahmen, H.(eds.): Optical 3-D Measurement Techniques VII, ISBN 3-9501492-2-8, Volumen I, Page 255-261, Wien, 2005
Doloca, R., Tutsch, R.,: Random phase shift interferometer:The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns, W. Osten (Ed.) Fringe 2005, Seiten 167-174
Petz, M., Tutsch, R.,: Reflection grating photogrammetry: a technique for absolute shape measurement of specular free-form surfaces. In: Stahl, H.P. (ed.): Proc. Spie Vol. 5869 (2005). Optical Manufacturing and Testing VI, pp. 58691D-1 - 58691D-12
Tutsch, R.; Berndt, M.: Enhancement of image contrast by fluorescence in microtechnology, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV, Proceedings of SPIE Volume 5856, ISBN 0-8194-5856-2, S. 914-921, München, 2005
Fischer, H., Tutsch, R.,: Akustische Holographie und Rekonstruktion akustischer Wellenfelder aus Hologrammen. Poster, 31. Deutsche Jahrestagung für Akustik, DAGA '05, 2005
Casarotto, L., Tutsch, R., Ritter, R., Dierke, H., Klose, F., Neuhäuser, H.: Investigation of PLC bands with optical techniques. In: Computational Materials Science, ISSN-Nr. 0927-0256, S. 316 - 322, Magdeburg, 2005
Hoxhold, B.; Büttgenbach, S.; Wrege, J.; Heuer, K.; Hesselbach, J.; Tutsch, R.; Berndt, M.: Sensorgeführte Montage aktiver Mikrosysteme, In Vortrag beim Kolloquium Mikroproduktion der Sonderforschungsbereiche 440, 499 und 516, ISBN 3-86130-999-8, S. 263-272, Aachen, 2005
R. Tutsch, M. Berndt: An automated foam decay measurement with image processing system, Measurement and Quality Control in Production 2004, VDI-Bericht Nr. 1860, ISBN 3-18-091860-8, S. 237-244, Erlangen, 2004
J. Hesselbach, R. Tutsch, G. Pokar, S. Bütefisch, M. Berndt: Assembly and measuring technique for the manufacturing of active micro systems, Springer Verlag, Microsystems Technologies, Volume 10 - Number 3, S.182-186, Berlin, 2004
K. Heuer, J. Hesselbach, R. Tutsch, M. Berndt: Sensor Guided Assembly System For Microassembly, In Proceedings of RAAD'04, 13th International Workshop on Robotics in Alpe-Adria-Danube Region, Brno University of Technology, ISBN 80-7204-341-2, S. 228-233, Brno, 2004
Casarotto, L., Tutsch, R., Dierke, H., Neuhäuser, H.: Real-time detection of Portevin-Le Chatelier bands by means of a two camera system. Proceedings of the 12th International Conference on Experimental Mechanics ICEM 129; Bari; Italy, 29.08.-02.09.2004 Published on CD.
K. Heuer, J. Hesselbach, R. Tutsch, M. Berndt: Sensorgeführtes Montagesystem für die Mikromontage, Robotik 2004, VDI-Berichte Nr. 1841, ISBN 3-18-091841-1, S.39-46, München, 2004
Petz, M., Tutsch, R.: Rasterreflexions-Photogrammetrie zur Messung spiegelnder Oberflächen. In: tm - Technisches Messen 71 (2004) 7-8, S. 389-397
Casarotto, L., Tutsch, R., Dierke, H., Neuhäuser, H.: Application of a fast scanning optical extensometer for tensile testing, Colloque Photomécanique 2004, Albi, 4.-6. Mai 2004
M. Petz, R. Tutsch: Reflection grating photogrammetry. In: VDI-Berichte 1844, International Symposium on Photonics in Measurement, Frankfurt, 2004, p. 327-338
M. Petz, R. Tutsch: Photogrammetrische Messung schneller Verformungen mit Zeilenkameras. In: VDI-Berichte 1829, Sensoren und Messsysteme 2004, Ludwigsburg, 2004, S. 689 - 697
M. Petz, R. Tutsch, M. Brand, V. Michailov: Verformungsmessung an Schweißkonstruktionen unter Einsatz des Objektrasterverfahrens. In: L. Paul, Prof. G. Stanke / M. Pochanke: 3D-NordOst 2003 - 6. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Verarbeitung, Modellierung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 2003, S. 71-78
G. Molnar, R. Tutsch, G. Fischer: 3D evaluation of tensile tests by SEM-microscopy. In: Micro.tec 2003 2nd VDE World Microtechnologies Congress, München, 13.-15.10.2003, Tagungsband ISBN 2-8007-2791-9, S. 95-98
R. Tutsch, M. Berndt: Optischer 3D-Sensor zur räumlichen Positionsbestimmung bei der Mikromontage, VDI-Berichte Nr. 1800, Applied Machine Vision, ISBN 3-18-091800-4, S. 111-118, Stuttgart, 2003
K. Heuer, G. Pokar, J. Hesselbach, R. Tutsch, M. Petz, M. Berndt: 3D-sensor for the control of a micro assembly robot, Optomechatronic Systems IV, Proceedings of SPIE volume 5264, ISBN 0-8194-5152-5, S. 267-273, Providence, 2003
M. Brand, V. Michailov, M. Petz, R. Tutsch: FE-Welding Simulation and Distortion Measurement During Welding Using Optical Object Grating Method. 7th International Seminar Numerical Analysis of Weldability, 29 September - 1 October 2003, Graz, Austria
L. Casarotto, R. Tutsch, R. Ritter, H. Dierke, F. Klose, H. Neuhäuser: Investigation of PLC-Bands with Optical Techniques. 13th International Workshop on Computational Mechanics of Materials (IWCMM 13), 22.-23.09.2003, Magdeburg. Zur Veröffentlichung eingereicht bei Computational Materials Science (Elsevier)
L. Casarotto, R. Tutsch, R. Ritter, J. Weidenmüller, A. Ziegenbein, F. Klose, H. Neuhäuser: Propagation of deformation bands investigated by laser scanning extensometry. Computational Materials Science 26 (2003), S. 210-218
M. Petz, R. Tutsch: Measurement of optically effective surface by imaging of gratings. In: W. Osten, K. Creath, M. Kujawinska (Hrsg.): Proc. SPIE Vol. 5144 (2003) - Optical Measurement for Industrial Inspection II, S. 288-294.
L. Casarotto, R. Tutsch, R. Ritter, H. Dierke, F. Klose, H. Neuhäuser: Tracking the Propagation of Deformation Bands by Means of an Optical Scanning Extensometer. In Vortrag bei XVII IMEKO World Congress Metrology in the third Millennium am 22.-27.6.2003, Dubrovnik, Kroatien, publiziert auf CD-ROM.
G. Molnar R. Tutsch, G. Fischer: Photogrammetric 3D-Measurement of Microstructure from SEM Images. In: M. Weck, H. Kunzmann (Hrsg.): Proceedings of EUSPEN International Conference on Precision Engineering, Micro Technology, Measurement Techniques and Equipment 2003, S. 515-517
J. Hesselbach, R. Tutsch, G. Pokar, M. Berndt: Montage- und Messtechnik zur Fertigung aktiver Mikrosysteme In Vortrag beim Kolloquium Mikroproduktion der Sonderforschungsbereiche 440, 499 und 516, ISBN 3-8027-8670-X, S. 57-64, Braunschweig, 2003
H. Müller: Kalibrierung von Beschleunigungsaufnehmern bei stoßförmiger Anregung und nach dem Vergleichsverfahren. In: tm - Technisches Messen 70 (2003) 6, S. 327-332
J. Hesselbach, D. Ispas, G. Pokar, S. Soetebier, R. Tutsch: Parallel robot for micro assembly with integrated innovative optical 3D-sensor. In: Optomechatronic Systems III, 12-14. November 2002 in Stuttgart, Proceedings of SPIE, Vol. 4902, S. 134-145
M. Petz, R. Tutsch, M. Brand, V. Michailov: Distortion measurement during welding of fine grain high strength steel using optical object grating method. Poster Presentation: Mathematical Modelling And Information Technologies In Welding And Related Processes, vil. Katsiveli, Crimea, Ukraine, 16 - 20 September 2002
M. Petz, R. Tutsch: Optical 3D Measurement of Reflecting Free Formed Surfaces. In: VDI-Berichte 1694, International Symposium on Photonics in Measurement, Aachen, 2002, S. 329-332
D. Ispas, R. Tutsch: Compact Stereoscopic 3D-Sensor for Micro-Robot Control. Poster: Internationales Symposium Photonics in Measurement, VDI-Berichte 1694, p. 179-182, 11.-12. Juni 2002, Aachen
G. Molnar, R. Tutsch: Geometrieerfassung durch photogrammetrische Auswertung rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen. Poster: Tagung Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik (DGaO). 22.-25. Mai 2002, Innsbruck
M. Petz, R. Tutsch: Rasterfahndung - Konturerfassung reflektierender Oberflächen. In: QZ - Qualität und Zuverlässigkeit, Jahrg. 47 (2002) 5, München, S. 556-558
R. Tutsch: Kein Tempel für die Meßtechnik. Antrittsvorlesung TU Braunschweig. 17. April 2002, Braunschweig
R. Tutsch: Kohärente und inkohärente optische Verfahren in der Mikromeßtechnik. In: 11. ITG/GMA-Fachtagung Sensoren und Mess-Systeme 2002. März, 2002, Ludwigsburg, S. 279-282
R. Tutsch: Mikrofotogrammetrische Meßtechnik. In: Physikalisches Kolloquium TU Gießen. Januar 2002, Gießen
R. Tutsch, L. Casarotto, R. Ritter, A. Ziegenbein, F. Klose, J. Weidenmüller, H. Neuhäuser: Propagation of deformation bands investigated by laser extensometry and video recording. In 11. Internationaler Workshop Computational Mechanics and Computer Aided Design of Materials (IWCMM11). 24.-25. September 2001, Freiberg
R. Tutsch, R. Ritter, D. Ispas, M. Petz, L. Casarotto. Microphotogrammetry for 3D strain measurement and microassembly control. In Proceedings of SPIE Microsystems Engineering: Metrology and Inspection, S. 27-35 Juni 2001, München 2001
M. Petz, R. Ritter: Reflection grating method for 3D measurement of reflecting surfaces. In: R. Höfling, W. Jüptner, M. Kujawinska (Hrsg.): Proc. SPIE Vol. 4399 (2001) - Optical Measurement for Industrial Inspection II: Applications in Production Engineering, S. 35-41
M. Petz, R. Ritter: Rasterreflexionsverfahren zur Konturerfassung spiegelnd reflektierender Oberflächen. Vortrag: DGaO-Jahrestagung 2001, Göttingen, Juni 2001
R. Tutsch, R. Ritter, M. Petz: Zur flächenhaften zerstörungsfreien Prüfung mit Hilfe optischer Feldmeßtechnik. Vortrag: DGZfP-Jahrestagung 2001 Zerstörungsfreie Materialprüfung, Berlin, Mai 2001
R. Tutsch: Interferometrische Asphärenprüfung. In: Physikalisches Kolloquium, TU Düsseldorf, 25. Januar 2001
R. Ritter, H. Friebe: Experimental Determination of Deformation and Strain Fields by Optical Measuring Methods. In: Deutsche Forschungsgemeinschaft Collaborative Research Centre 319 Stoffgesetze für das inelastische Verhalten metallischer Werkstoffe - Entwicklung und technische Anwendung. 1985-1996, WILEY-VCH, S. 298-317, 2001
C. Reich, R. Ritter, J. Thesing: 3-D shape measurement of complex objects by combining photogrammetry and fringe projection. Optical Engineering, 39(1), S. 224-231, 2000
B. Huhnke: Neue optische Abstandsaufnehmer für die fertigungsintegrierte Messung rotationssymmetrischer Werkstücke. VDI-Berichte 1530 VDE-Verlag 3/2000
R. Ritter, A. Ziegenbein, J. Thesing, H. Neuhäuser, H. Wittich, E. Steck: Local Plasticity of CU-AL-Polycrystals investigated by in Situ-Abservations and FEM-Simulations. Journal of the Mechanical Behaviour of Materials Vol. 11, Nr. 1-3, S. 257-264, Tel Aviv Israel, 2000