Der mechanische Prober ermöglicht die Kontaktierung von kleinen Mikrosystemen/Chips und Sensoren. Unter dem Mikroskop werden dafür die kleinen Kontaktflächen der zu untersuchende Chips durch fein positionierbare Nadeln angetastet. Die Nadeln sind elektrisch mit einem Adaptersteckbrett verbunden, sodass benötigte Peripherie-Geräte (z.B. Messgeräte zur Analyse der Sensorfunktionalität) mittels einfacher Steckkabel angeschlossen werden können.