Elektronenmikroskopie

TEM-Aufnahme von Kupfer
Versetzungslinien in Kupfer, Transmissionselektronenmikroskopische Aufnahme
Cu-Zr2 nach SLM
Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme der Mikrostruktur einer Kupferlegierung mit zwei Gewichtsprozent Zirkon nach dem selektiven Laserschmelzen: Feinverteilte Zirkonausscheidungen.