Der Frequenzbereich zwischen 300 GHz bis 3 THz wird als Terahertz-Bereich bezeichnet, wobei die obere Grenze auch manchmal bis 30 THz definiert wird. Dieser Bereich wird auch als Terahertz-Lücke bezeichnet, da für die Erzeugung und Manipulation von elektromagnetischen Wellen in diesem Frequenzbereich neue Technologien erprobt werden müssen.
Am Institut wurde ein komplexer Messaufbau für die Messung von THz-Strahlung aufgebaut, welcher als THz-Mikroskop bezeichnet wird. Eine Möglichkeit, um Frequenzen im Terahertz-Bereich zu messen, sind supraleitende Josephson-Kontakte. Diese bilden die physikalische Grundlage des verwendeten Sensors am THz-Mikroskop und wird als Josephson-Cantilever bezeichnet. Mit diesem ist es möglich, dreidimensionale Strahlungsverteilungen im GHz- bis zum THz-Bereich zu messen.
Im Seminarvortrag soll die Funktionsweise von Josephson-Kontakten erklärt werden und die damit ermöglichte Frequenz- und Leistungsmessung von elektromagnetischen Wellen. Dabei soll der Josephson-Cantilever vertieft betrachtet werden. Ebenfalls soll dessen Aufbau erklärt werden sowie auf wichtige Eigenschaften eingegangen werden. Schlussendlich sollen noch Simulationsaspekte vorgestellt werden, die für die Simulation mit einer 3D-Software für elektromagnetische Simulation wichtig sind.
Betreuer: Julius Ritter, MSc.