Die Charakterisierung von elektronischen Komponenten unter Einfluss von diversen Bestrahlungsarten ist heutzutage von besonderer Bedeutung. Durch die genaue Charakterisierung ist die Entwicklung von Modellen möglich, um neuartige Schutzmechanismen gegenüber Strahlungseinflüssen zu entwickeln. Die Empfindlichkeit einer elektronischen Komponente hängt stark von der Dimensionierung sowie dem Fertigungsprozess ab. Moderne integrierte Schaltungen, die durch die fortschreitende Miniaturisierung in immer kleineren Strukturgrößen vorliegen, werden dabei immer empfindlicher gegenüber Bestrahlung. Daher steigt die Notwendigkeit, die Charakterisierung und Modellierung solcher Technologien durchzuführen, um effizient implementierte, robuste Elektronik zu entwickeln. In diesem Projekt sollen unterschiedliche digitale integrierte Schaltungsarten (FPGAs, applikationsspezifische ICs und Standard-ICs) in unterschiedlichen Technologien charakterisiert und modelliert werden. Dazu sollen drei unterschiedliche Bestrahlungsquellen zum Einsatz kommen (Neutronengenerator, Gammablitzanlage, Co-60-Quelle). Anschließend soll ein exemplarischer Schutzmechanismus mit Hilfe der entwickelten Modelle für ein FPGA entwickelt, implementiert und experimentell validiert werden.
Leitung: Prof. Dr.-Ing. Guillermo Payá Vayá
Laufzeit: 09.2022 - 07.2025