Dr.-Ing. Xin Jin
Charakterisierung der Eigenschaften von Holzoberflächen in der Mikro- bis Nanometerskala mittels AFM
Lokalisierte Oberflächeneigenschaften sind sehr bedeutend für technologische Entwicklungen in Themenbereichen wie Adhäsion, Schutzbeschichtungen, Oberflächenfunktionalisierungen etc. Mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist es neben der Bestimmung wahrer 3D Oberflächentopografien in Nanometerauflösung zusätzlich möglich, lokalisierte Oberflächenkräfte zu messen. Das Ziel des Projekts ist eine detaillierte Analyse der Oberflächeneigenschaften verschiedener Komponenten der zellulären Holzstruktur und ein tieferes Verständnis des Benetzungsverhaltens sowie des Alterungsverhaltens von Holz/Adhäsiv-Grenzflächen.
© Xin Jin
Bild1:
Grenzfäche Holz/Klebstoff, dargestellt mit AFM
Publications within the framework of the RTG:
Publications in peer-reviewed scientific journals
I. Dreßler, X. Jin, H. Budelmann and B. Kasal. Zusammenhang von Adhäsion und Reinigung von Mikropartikeln auf strukturierten Oberflächen. Chemie Ingenieur Technik 2018; 90(3): 386-392.
X. Jin and B. Kasal. Discussion about the data analysis and conclusion of the paper titled "Comparison of silicon and OH-modified AFM tips for adhesion force analysis on functionalised surfaces andnatural polymers". Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects 2017; 533: 354-355.
X. Jin and B. Kasal. Adhesion force mapping on wood by atomic force microscopy: influence of surface roughness and tip geometry. Royal Society Open Science 2016;10(3), 160248.